ICP-MS简述
20世纪60年代末期，采用电感耦合等离子体源的原子光谱技术成为当时应用于微量元素分析的一项非常有前
途的技术（Greenfield等，1964； Wendt与Fassel, 1965）。但在分析超低含量物质时由于背景光谱增强，光谱干扰
严重使分析灵敏度和准确度达不到要求。只有质谱法能同时满足谱图简单、分辨率适中和较低检出限的要求。因此， ICP-AES所具有的样品易于引入、分析速度快、多元素同时分析的特点与质谱仪的联用成为科学和商业上研究的
热点。1970年许多公司深入的参与了该技术的研究，CP作为发射源使等离子体中分析物有效电离能够满足新一代
仪器源的要求。同时也注意到惰性气体在大气压下的电等离子体可能是一个很好的离子源。因此人们采用四极杆 质量分析器和通道式离子检测器开展可行性研究。Gral在70年代中期首先报道了用等离子体作为离子源的质谱分 析法。1981年Gray在Surrey实验室设计完成了 ICP源上所预期性能的设备，获得了张ICP谱图。1983年英 国VG公司与加拿大Sciex公司推出商业化的ICP-MS，1984年在用户实验室才安装ICP-MS。在此以后 ICP-MS在化学分析中广泛应用开来。
为了使 ICP-MS 质谱仪能够准确地分析样品，需要进行适当的样品前处理，需要进行适当的样品前处理，以将待测元素从基体中电离出来，并将其转化为易于电离的形式。常用的前处理方微波括湿法消解、干法灰化、微波消解等。
湿法消解是将样品与酸或碱等试剂混合，在高温下进行消解，以将待测元素从基体中分离出来。干法灰化是将样品在高温下进行灰化，以将待测元素从基体中分离出来。微波消解是将样品在微波炉中进行消解，以将待测元素从基体中分离出来。
在进行样品前处理时，需要注意以下几点：
选择适当的前处理方法：根据样品的性质和待测元素的性质，选择适当的前处理方法。
控制样品的量和浓度：样品的量和浓度会影响 ICP-MS 质谱仪的分析结果，因此需要控制样品的量和浓度，以保证分析结果的准确性。
避免污染：在进行样品前处理时，需要避免污染，以保证分析结果的准确性。
控制消解温度和时间：消解温度和时间会影响 ICP-MS 质谱仪的分析结果，因此需要控制消解温度和时间，以保证分析结果的准确性。
进行空白对照实验：在进行样品前处理时，需要进行空白对照实验，以保证分析结果的准确性。
总之，为了使 ICP-MS 质谱仪能够准确地分析样品，需要进行适当的样品前处理，以将待测元素从基体中分离出来，并将其转化为易于电离的形式。在进行样品前处理时，需要注意选择适当的前处理方法、控制样品的量和浓度、避免污染、控制消解温度和时间、进行空白对照实验等。
要确保 ICP-MS 质谱仪的分析性能符合要求，可以考虑以下几个方面：
校准和标准化：定期进行仪器的校准和标准化，使用标准物质进行校准，以确保仪器的测量结果准确可靠。
质量控制：进行质量控制措施，如空白样品、标准样品、重复样品等的检测，以监测仪器的稳定性和准确性。
仪器维护：按照仪器的操作手册进行定期的维护和保养，包括清洗、更换耗材、检查部件等，确保仪器处于良好的工作状态。
样品前处理：优化样品前处理方法，确保样品制备的一致性和可靠性，以减少干扰和误差。
培训和经验：操作人员应接受充分的培训，了解仪器的操作和分析方法，积累丰富的经验，以正确操作和解读仪器的分析结果。
定期验证：定期进行仪器性能的验证和评估，与其他可靠的分析方法进行比对或参加能力验证活动。
环境条件：确保仪器的工作环境符合要求，如温度、湿度、电磁场等，以避免环境因素对仪器性能的影响。
数据分析和审查：对分析数据进行仔细的审查和分析，发现异常结果时，及时进行调查和纠正。
供应商支持：与仪器供应商保持良好的沟通，及时获取技术支持、固件更新和维修服务。
方法开发和优化：根据具体的分析任务，开发和优化合适的分析方法，以提高仪器的分析性能。
ICP-MS质谱仪控制界面参数设置：如射频功率、离子源温度、气体流量等，这些参数会影响仪器的性能和分析结果。
质量扫描：可以设置质量范围、扫描速度等，用于监测和分析特定质量数的离子。
数据采集：控制数据的采集时间、积分时间等，以获取所需的分析数据。
校准和校正：进行校准曲线的建立、质量校正等操作，确保测量的准确性。
数据处理和显示：显示实时的质谱图、强度数据等，并提供数据处理和分析的功能。
系统状态监测：显示仪器的运行状态、气源压力、真空度等信息，以便及时发现潜在问题。
方法编辑和保存：可以创建、编辑和保存分析方法，方便后续实验的重复使用。
用户设置和权限管理：根据不同用户的需求，设置相应的权限和操作选项。
故障诊断和报警：当仪器出现故障或异常时，提供相应的诊断信息和报警提示。这些只是一般情况下 ICP-MS 质谱仪控制界面可能包含的功能，具体的界面布局和操作方式会根据仪器的特点和用户需求而有所不同。