x射线发生装置的构成
1、高稳定度X射线源提供测量所需的X射线，改变管阳极靶材质可改变波长，调节阳极电压可控制X射线源的强度。
2、样品及样品位置取向的调整机构系统样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。
3、射线检测器检测衍射强度或同时检测衍射方向，通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。
4、衍射图的处理分析系统，现代X射线衍射仪都附带安装有衍射图处理分析软件的计算机系统，它们的特点是自动化和智能化。
x射线发生装置用途
1、科学研究和发展先进材料，这项工作涉及研究各种物质的特性和使用，如金属，陶瓷和塑料，应用范围从空间科学和科技到消费类产品。X射线衍射（XRD）是研究先进材料的主要技术，包括下列功能：相的识别和定量，相的结晶度判定，晶体结构，晶体取向和织构，极图等。这些功能的非环境条件影响也同XRD技术一起经常研究。搜索可针对各种样品类型，从粉末到各种形状和尺寸的固体材料，液体和半导体晶片。
2、地质，矿产和在研究行星进程和地球构造过程中，地理学家们需要分析岩石和矿物样品的组成。分析技术如：小点激发，分布分析和无标定量分析，日渐成为地质研究及矿物学研究领域内的主要仪器。
x射线发生装置原理
x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析衍射结果，便可获得晶体结构。
对于晶体材料，当待测晶体与入射束呈不同角度时，那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来，体现在XRD图谱上就是具有不同的衍射强度的衍射峰。对于非晶体材料，由于其结构不存在晶体结构中原子排列的长程有序，只是在几个原子范围内存在着短程有序，故非晶体材料的XRD图谱为一些漫散射馒头峰。
x射线发生装置解决哪些问题？
（1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。
（2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。
（3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。
（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。
（5）纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。